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菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDLM237采用能量色散 X 射線熒光（EDXRF），無損測量鍍層厚度與多元素成分；自上而下的測量方向，適配不平整小零件；結合菲希爾DCM 距離補償，可簡化不同高度 / 距離的樣品測量。
標配WinFTM® 專業(yè)軟件，符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 標準；具備基本參數(shù)法（FP），無需標準樣也可做定量分析。
與同系列 231（平面臺 + 電動 Z）、232（手動 XY + 電動 Z）的核心區(qū)別：防護蓋開啟時 XY 臺自動移出至裝卸位，實現(xiàn)批量自動化測量。
關鍵硬件參數(shù)
X 射線源：微聚焦鎢靶射線管（鈹窗）；高壓三檔可調：10/30/50 kV；3 種電動切換初級濾片（Ni、Al、無濾片）；4 種準直器（0.1 mm、0.3 mm、0.6 mm、0.5×0.15 mm 狹縫），最小測量光斑約 0.1 mm
探測器：比例計數(shù)管（Proportional Counter），兼顧速度與靈敏度；測量距離 0–80 mm，DCM 補償
樣品臺：電動可編程 XY+Z；行程 XY 255×235 mm，Z 140 mm；移動速度 80 mm/s；XY 單向重復精度≤0.01 mm；樣品高度 140 mm，樣品重量 5 kg（降精度可用至 20 kg）
定位系統(tǒng)：集成帶變焦（1×/2×/3×/4×）的 CCD 彩色視頻顯微鏡 + 1 級激光指示；十字線帶標定標尺，可調 LED 照明
元素范圍：Al（13）~U（92），可同時分析最多 24 種元素
電氣與尺寸：電源 115/230 V 50/60 Hz；功耗≤120 W（不含電腦）；防護等級 IP40；外部尺寸 570×760×650 mm；重量約 120 kg；帶 C 型槽的防護罩可測超大平板（如 PCB）
